A látogatók számára az Electronica 2024 -ben

Foglalja le most az idejét!

Csak néhány kattintás szükséges a hely fenntartásához és a Booth jegy megszerzéséhez

C5 Hall Booth 220

Előzetes regisztráció

A látogatók számára az Electronica 2024 -ben
Mindannyian regisztrálsz! Köszönjük, hogy megbeszélést tettél!
Miután ellenőriztük a foglalását, e -mailben küldjük el a Booth jegyeket.
Otthon > Termékek > Integrált áramkörök (IC-k) > Logika - speciális logika > SN74BCT8374ADWR
RFQs/megrendelés (0)
Magyarország
Magyarország
710480

SN74BCT8374ADWR

Ajánlat kérése

Kérjük, töltse ki az összes szükséges mezőt a kapcsolattartási adataival. Kattintson a "Beküldés rfq" című részével. Rövidesen e -mailben felveszünk Önnel.Vagy küldjön e -mailt nekünk:info@ftcelectronics.com
Érdeklődés Online
Műszaki adatok
  • Cikkszám
    SN74BCT8374ADWR
  • Gyártó / Márka
  • Készletmennyiség
    Raktáron
  • Leírás
    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
  • Ólommentes állapot / RoHS állapot
    Ólommentes / RoHS megfelelő
  • Tápfeszültség
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Szállító eszközcsomag
    24-SOIC
  • Sorozat
    74BCT
  • Csomagolás
    Tape & Reel (TR)
  • Csomagolás / tok
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Üzemi hőmérséklet
    0°C ~ 70°C
  • Bitek száma
    8
  • Szerelési típus
    Surface Mount
  • Nedvességérzékenységi szint (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logikai típus
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • Ólommentes állapot / RoHS állapot
    Lead free / RoHS Compliant
  • Részletes leírás
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
  • Alap rész száma
    74BCT8374
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74CB3Q16211DGGR

SN74CB3Q16211DGGR

Leírás: IC SW BUS 24BIT FET 56-TSSOP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74CB3Q16210DLR

SN74CB3Q16210DLR

Leírás: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-SSOP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Leírás: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74CB3Q16210DGVR

SN74CB3Q16210DGVR

Leírás: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TVSOP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74CB3Q16211DGVR

SN74CB3Q16211DGVR

Leírás: IC SW BUS 24BIT FET 56-TVSOP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74CB3Q16210DL

SN74CB3Q16210DL

Leírás: IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Leírás: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Gyártók: Luminary Micro / Texas Instruments
Raktáron

Válasszon nyelvet

Kattintson a helyre a kilépéshez